РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ В КОМПЛЕКСЕ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ ЭПИТАКСИАЛЬНЫХ СТРУКТУР |
| 1 | |
| 2001 |
| научная статья | 539.26 + 548.73 | ||
| 23-30 |
| Рентгеновская дифрактометрия как один из методов исследования вещества имеет свою область применения и свои взаимоотношения с другими методами. Эти методологические вопросы рассматриваются на примере двух исследований. Делается вывод, что при количественном анализе необходимо включать в процесс уточнения параметры сразу многих моделей: ростового реактора (модель роста), модель объекта (обычно только ей и ограничиваются) и модели взаимодействия всех используемых измерительных приборов с объектом. При этом на качественном уровне должны быть заранее решены вопросы построения адекватных моделей и вопросы увязывания (согласования) информации, поставляемой различными методами. |
 |
| 1 . Дроздов Ю.Н., Дроздов М.Н., Данильцев В.М., Хрыкин О.И. и др. Нанофотоника // Материалы совещания. Н. Новгород, 20 - 23 марта 2000 г. С. 246-249. 2 . Востоков Н.В., Данильцев В.М., Дроздов М.Н., Дроздов Ю.Н. и др. Поверхность // РСНИ. 2000. № 11. С. 84-88. |