Главная страница
russian   english
16+
<< назад

Название статьи

CПЕКТРОСКОПИЯ ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ И ЭПР КРЕМНИЯ, ОБЛУЧЕННОГО ИОНАМИ СРЕДНИХ ЭНЕРГИЙ


Номер журнала
1
Дата выпуска
2003

Раздел
ДОКЛАДЫ НА VI ВСЕРОССИЙСКОМ СЕМИНАРЕ "ФИЗИЧЕСКИЕ И ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИИ" 15-17 октября 2002 г.

Тип статьи
научная статья
Коды УДК
 
Страницы
52-59
Ключевые слова
 

Авторы
Тетельбаум Д.И.
Ежевский А.А.
Михайлов А.Н.
Мухаматуллин А.Х.
Акис С.Е.
Гапонова Д.М.

Место работы
Тетельбаум Д.И.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И.Лобачевского,

Ежевский А.А.
Нижегородский государственный университет имени Н.И. Лобачевского

Михайлов А.Н.
Нижегородский государственный университет имени Н.И. Лобачевского

Мухаматуллин А.Х.
Нижегородский государственный университет имени Н.И. Лобачевского

Акис С.Е.
Нижегородский государственный университет имени Н.И. Лобачевского

Гапонова Д.М.
Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород


Аннотация
Приводятся результаты детального исследования дозовых зависимостей фотолюминесценции и электронного парамагнитного резонанса кремния, подвергнутого облучению ионами Ge+, Ar+, Ne+. Фотолюминесценция в диапазоне длин волн 700-1100 нм в общем случае интерпретируется как результат свечения нанокристаллических включений в аморфизованной матрице кремния и излучательных переходов в аморфной фазе. При уменьшении массы характер дозовой зависимости сохраняется. При этом положение пика фотолюминесценции, связанного с нанокристаллами, сдвигается в сторону больших доз, что связано с ростом дозы аморфизации. Во всех случаях эволюция структурированной системы с ростом дозы облучения четко коррелирует с изменением концентрации парамагнитных центров с g-фактором 2.,0055, обусловленных оборванными связями. Предложена модель такой корреляции.

Загрузить статью

Библиографический список
1 . Тетельбаум Д.И., Шенгуров В.Г., Шенгуров Д.В., Питиримова Е.А. и др. // Поверхность. 1998. №5. С.34-37.
2 . Тетельбаум Д.И., Трушин С.А., Питиримов А.В.// Известия РАН. Сер. физ. 2000. Т.64. №11. С.2168-2169.
3 . Питиримов А.В., Питиримова Е.А., Тетельбаум Д.И., Шенгуров В.Г., Хохлов А.Ф..// Поверхность. 2000. Т.15. С. 701-704.
4 . Тетельбаум Д.И., Трушин С.А., Ревин Д.Г., Гапонова Д.М. и др.// Известия РАН, Сер. физ. 2001. Т.65. №2. С.292-294.
5 . Трушин С.А., Михайлов А.Н., Ежевский А.А., Лебедев М.Ю. и др.// Вестник ННГУ. Серия Физика твердого тела. 2001. В.2(5). С.37-40.
6 . Kovalev D., Diener J., Heckler H., Polisski G. et. al.// Phys. Rev. B. 2000. V.61. P.4485.
7 . Ершов А.В., Хохлов А.Ф., Машин А.И., Мильхин Д.В.// В кн.: Тезисы докладов VI Всероссийского семинара «Физические и физико-химические основы ионной имплантации» (15-17 октября 2002, Нижний Новгород). С.70.
8 . Физические процессы в облученных полупроводниках. / Под редакцией Л.С. Смирнова. Новосибирск: Наука, 1977. 256 с.
9 . Аморфные полупроводники. / Под ред. М. Бродски. Перевод с англ. М.: Мир, 1982. 419 с. 1