РАСЧЁТ ИЗМЕНЕНИЙ ПРОФИЛЕЙ КРИВИЗНЫ МОДУЛЬНЫХ ОБРАЗЦОВ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ НА НИХ ТЕПЛОВЫМИ И ЭЛЕКТРИЧЕСКИМИ ПОЛЯМИ |
| 3 | |
| 2008 |
| научная статья | 548.732 | ||
| 47-53 | Модульные образцы, активные элементы, терморасширяющие элементы |
| Исследуется возможность корректировки профилей изгиба модульных образцов (МО), состоящих из основания и активных элементов (АЭ). Приводятся данные расчетов изгиба двух типов МО, в одном из которых АЭ являлись терморасширяющие элементы, во втором - пьезоэлементы. В первом случае изгиб МО изменяется за счет термодеформаций, управляемых изменением его температуры, во втором случае изгиб управляется электрическим полем за счет пьезодеформаций АЭ. Параметры АЭ варьируются по размерам и позиционируются вдоль поверхности МО. В зависимости от параметров АЭ и величины воздействия на них, профиль поверхности МО принимает параболическую, эллиптическую и гиперболическую формы. |
 |
| 1 . Underwood J.H., Turner D. // Proc. SPIE. 1977. V. 106 P. 125 2 . Stedman M. // Workshop on X-ray Instrumentation for Synchrotron Radiation Research / Eds. Winick H., Brown G. Stanford Liner Accelerator Center. 1978. SS-RL Report ? 78/04. P. VII142 3 . Ахсахалян, А.А. и др. // Поверхность. Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования. 2002. ? 1. С. 51 4 . Ахсахалян, А.Д. и др. // Поверхность. Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования. 1999. ? 1. С. 162 5 . Jiang, et al. US Patent 6421417, July 16, 2002 6 . Сиротин Ю.И., Шаскольская М.П. Основы кристаллофизики. М.: Наука, 1979. 639 с 7 . Ландау Л.Д., Лившиц Е.М. Теоретическая физика. Т. VII. Теория упругости. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003. 264 с 8 . Корн Г., Корн Т. Справочник по математике. СПб.: Изд. «Лань», 2003. 832 с 9 . Трушин В.Н., Маркелов А.С, Чупрунов Е.В. Управление рентгеновским излучением с использованием воздействия электрических и тепловых полей на дифрагирующий кристалл. // Материалы электронной техники 2007. ?. 1. С.76-80 |