1 . Шашкин В.И., Мурель А.В. Диагностика низкобарьерных диодов Шоттки с приповерхностным ?-легированием // Физика и техника полупроводников. 2008. Т. 42. Вып. 4. С. 500-502. 2 . Сайт производителя Low-Noise Preamplifier 5113 и Ultra Low-Noise Preamplifier 5184 [Электронный ресурс]. URL: http://www.signalrecovery.com (дата обращения: 10.12.2008) 3 . Сайт производителя модулей NI-9239 и NI cDAQ-9172 [Электронный ресурс]. URL: http://www. ni.com (дата обращения: 10.12.2008) 4 . Андронов А.А., Беляков А.В., Гурьев В.А., Якимов А.В. Интерактивная визуальная разработка приложений автоматизации научных и промышленных измерительно-управляющих систем в среде LabVIEW 6i National Instruments //Труды 2-го рабочего совещания по проекту НАТО SfP-973799 Semiconductors / Ред. А.В. Якимов. Н. Новгород: ТАЛАМ, 2002. С. 38-46. URL: http://www.rf.unn.ru/ NATO/index.html <http://www.rf.unn.ru/NATO/index.html> (дата обращения: 10.12.2008) 5 . Hesler J.L., Crowe T.W. Responsivity and Noise Measurements of Zero-Bias Schottky Diode Detectors //18th Intl. Symp. Space Terahertz Techn. Pasadena, 2007. URL: http://www.vadiodes.com/VDI/pdf/VDI% 20Detector%20Char%20ISSTT2007.pdf (дата обращения: 10.12.2008)
|