Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского. Серия: Социальные науки

16+

Название статьи

СТАТИСТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ВЫХОДНОГО ПРОЦЕССА ПРИ БЕЗЫНЕРЦИОННОМ ДЕТЕКТИРОВАНИИ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ДИОДА ШОТТКИ С ?-ЛЕГИРОВАНИЕМ

Номер журнала	5
Дата выпуска	2011

Тип статьи	научная статья	Коды УДК	621.391.822
Страницы	204-207	Ключевые слова	диод Шоттки, дельта-легирование, вольтамперная характеристика, детектирование, кумулянтные функции

Авторы

Клюев Алексей Викторович

Место работы

Клюев Алексей Викторович Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского

Аннотация

Исследован вопрос нахождения среднего значения и дисперсии выходного процесса при безынерционном детектировании случайного стационарного процесса с учётом обрат-ной связи с использованием диода Шоттки с ?-легированием. Зависимости выходных параметров от входных получены в гауссовом приближении.

Загрузить статью

Библиографический список

1 . Шашкин В.И., Вакс В.Л., Данильцев В.М. и др. Микроволновые детекторы на основе низкобарьерных планарных диодов Шоттки и их характеристики // Изв. вузов. Радиофизика. 2005. Т. 48. Вып. 6. С. 544-551.
2 . Shashkin V.I., Drjagin Yu.A., Zakamov V.R. et al. Millimeter-wave Detectors Based on Antenna-coupled Low-barrier Schottky Diodes // International Journal of Infrared and Millimeter Waves. 2007. V. 28. № 11. P. 945-952.
3 . Шашкин В.И., Мурель А.В., Данильцев В.М., Хрыкин О.И. Управление характером токопереноса в барьере Шоттки с помощью ?-легирования: расчет и эксперимент для Al/GaAs // Физика и техника полупроводников. 2002. Т. 36. Вып. 5. С. 537-542.
4 . Шашкин В.И., Мурель А.В. Теория туннельного токопереноса в контактах металл-полупроводник с приповерхностным изотипным ?-легированием // Физика и техника полупроводников. 2004. Т. 38. Вып. 5. С. 574-579.
5 . Малахов А. Н. Кумулянтный анализ случайных негауссовых процессов и их преобразований. М.: Советское радио, 1978. 376 с.
6 . Yakimov A.V., Klyuev A.V., Shmelev E.I. et al. 1/F noise in Si delta-doped Schottky diodes // Proc. 20-th Int. Conf. «Noise and Fluctuations, ICNF 2009». Pisa, Italy, 14-19 June 2009. P. 225-228.