Главная страница
russian   english
16+
<< назад

Название статьи

ФОРМИРОВАНИЕ И ДИАГНОСТИКА МАГНИТНЫХ НАНОСТРУКТУР


Номер журнала
3
Дата выпуска
2012

Тип статьи
научная статья
Коды УДК
541. 123: 546.21
Страницы
42-48
Ключевые слова
электронная литография, магнитные наноструктуры, сканирующая электронная микроскопия с анализом спиновой поляризации

Авторы
Гусев Сергей Александрович
Грибков Борис Александрович
Скороходов Евгений Владимирович

Место работы
Гусев Сергей Александрович
Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород

Грибков Борис Александрович
Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород

Скороходов Евгений Владимирович
Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского


Аннотация
С помощью электронно-лучевой литографии были изготовлены магнитные наноструктуры с латеральными размерами 1-10 мкм из пленок Co и Сo-Pt толщиной 10-20 нм для отработки методов диагностики магнитного состояния. Распределения намагниченности изготовленных структур изучались методами магнитно-силовой микроскопии и сканирующей электронной микроскопии с анализом спиновой поляризации вторичных электронов (SEMPA).

Загрузить статью

Библиографический список
1 . Parkin S.S. et al. // J. Appl. Phys. 1999. V. 85. P. 5828.
2 . Weiss N. et al. // Phys. Rev. Lett. 2005. V. 95. P. 157204.
3 . Моро У. Микролитография. М.: Мир, 1990.
4 . Wang H. and Campbell C.E. // Phys. Rev. B. 2007. V. 76. P. 220407.
5 . Neubauer A. et. al. // Phys. Rev. Lett. 2009. V. 102. P. 186602.
6 . Hubert A. and Schafer R. Magnetic Domains. Berlin: Springer, 1998.
7 . Kohachi T., Koike K. // J. Appl. Phys. 2001. V. 40. P. 1264.
8 . Mironov V.L., Gribkov B.A., Vdovichev S.N. et al. // J. Appl. Phys. 2009. V. 106. P. 0539111-8.
9 . Kisker E., Gudat W., and Schr?der K. // Solid State Commun. 1982. V. 44. P. 591-595.
10 . Hopster H., Raue R., Kisker E. et al. // Phys. Rev. Lett. 1983. V. 50. P. 70-73.
11 . Кесслер И. Поляризованные электроны. М.: Мир, 1988. 368 с.
12 . Petrov V.N., Grebenshikov V.V., Grachev B.D.,Kamochkin A.S. // Rev. Sci. Instrum. 2003. V. 74 (3). P. 1278.
13 . Основы аналитической электронной микроскопии / Под ред. Дж. Грена. М.: Металлургия, 1990.
14 . Vane R. US Patent 6452315. September 17. 2002.