Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского. Серия: Социальные науки

16+

Название статьи

ДИАГНОСТИКА МЕТОДОМ РЕНТГЕНОВСКОЙ ФОТОЭЛЕКТРОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ СОСТАВА НАНОСИСТЕМ СПИНТРОНИКИ НА ОСНОВЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВ GAAS СО СПИН-ИНЖЕКТИРУЮЩИМ СЛОЕМ GAMNAS

Номер журнала	1
Дата выпуска	2013

Тип статьи	научная статья	Коды УДК	537.9 + 537.622 + 543.42 + 543.51
Страницы	48-52	Ключевые слова	электронная спектроскопия, химический анализ, спинтроника, гетеронаноструктуры, эпитаксия, арсенид галлия, марганец, масс-спектроскопия

Авторы

Николичев Дмитрий ЕвгеньевичБоряков Алексей ВладимировичЗубков Сергей ЮрьевичДорохин Михаил ВладимировичКудрин Алексей ВладимировичЗдоровейщев Антон ВладимировичДроздов Михаил НиколаевичСуродин Сергей Иванович

Место работы

Николичев Дмитрий Евгеньевич Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Боряков Алексей Владимирович Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Зубков Сергей Юрьевич Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Дорохин Михаил Владимирович Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Кудрин Алексей Владимирович Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Здоровейщев Антон Владимирович Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Дроздов Михаил Николаевич Институт физики микроструктур РАН, Н. Новгород
Суродин Сергей Иванович Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского

Аннотация

Методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии изучается состав структур спинтроники, созданных комбинированным методом газофазной эпитаксии и лазерного распыления на основе GaAs с инжектирующим слоем GaMnAs и квантовой ямой InGaAs. Найдены профили распределения концентрации элементов в слоях и на гетерограницах. Охарактеризованы процессы диффузии марганца и индия, происходящие при выращивании структур и последующей длительной выдержке их в нормальных условиях.

Загрузить статью

Библиографический список

1 . Gregg J.F., Petej I., Jouguelet E., et al. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2002. V. 35. P. 121–155.
2 . Holub M., Bhattacharya P. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2007. V. 40. P. 179–203.
3 . Concepts in spin electronics / Ed. S. Maekawa. N.Y.: Oxford University Press, 2006. 93 p.
4 . Schmidt G. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2005. V. 38. P. 107–122.
5 . Saha D., Basu D., Bhattacharya P. // Appl. Phys. Lett. 2008. V. 93.
6 . Appelbaum I., Russel K.J., Monsma D.J., et al. // Appl. Phys. Lett. 2003. V. 83. 4571 p.
7 . Varalda J., Oliveira A.J.A., Ouerghi A., et al. // J. Appl. Phys. 2006. V. 100.
8 . Kasai M., Yanagisawa J., Tanaka H., et al. // Nucl. Instrum. Meth. B. 2006. V. 242. P. 240–243.
9 . Звонков Б.Н., Вихрова О.В., Данилов Ю.А. и др. // Оптический журнал. 2008. Т. 75. В. 6. С. 56–61.
10 . Кудрин А.В., Дорохин М.В., Данилов Ю.А. и др. // Письма в ЖТФ. 2011. Т. 37. В. 24. С. 57–65.
11 . Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса, М.П. Сиха. М.: Мир, 1987. 203 с.
12 . Handbooks of monochromatic XPS spectra. Volume 1. The elements and native oxides / Ed. by B.V. Crist. XPS International Inc., 1999. 658 p.
13 . Handbooks of monochromatic XPS spectra. Volume 2. Commercially pure binary oxides and a few common carbonates and hydroxides / Ed by B.V. Crist.
14 . XPS International LLC, 2005. 970 p. XPS/AES software [Электронный ресурс]. URL: http://www.xpsdata.com/
15 . Ikeda T., Fujioka H., Ono K., et al. // J. Cryst. Growth. 2002. V. 235. P. 555–560.
16 . Hatfield S.A., Veal T.D., McConville C.F., et al. // Surf. Sci. 2005. V. 585. P. 66–74.
17 . Oshima M., Mizuguchi M., Ono K., et al. // J. Electron Spectrosc. 2002. V. 124. P. 165–174.