АНАЛИТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ ДЕГРАДАЦИИ ХАРАКТЕРИСТИК КРЕМНИЕВЫХ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ С ТОНКОЙ БАЗОЙ ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ДЕФЕКТООБРАЗУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ |
2 | |
2013 |
научная статья | 621.382.33 | ||
56-59 | биполярный транзистор с тонкой базой, баллистический перенос носителей заряда, дефектообразующая радиация |
Разработана аналитическая модель деградации статических и малосигнальных характеристик биполярных транзисторов с тонкой базой. Учтены воздействие радиационного излучения и баллистический предел скорости носителей заряда. Теоретически показано, что с уменьшением толщины базы менее 100 нм деградация статических характеристик транзистора уменьшается. |
1 . Paul D.J. Si/SiGe heterostructures: from material and physics to devices and circuits // Semicond. Sci. Technol. 2004. V. 19. P. 75–108. 2 . Пузанов А.С., Оболенский С.В. Аналитическая модель переходных ионизационных процессов в кремниевых биполярных транзисторах с тонкой базой при воздействии фотонного импульсного излучения // Вопросы атомной науки и техники. Серия «Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру» (в печати). 3 . Hansen O. Diffusion in a short base // Solid-State Electronics. 1994. V. 37. № 9. P. 1663–1669. 4 . Ладыгин Е.А. Действие проникающей радиации на изделия электронной техники. М.: Советское радио, 1980. 224 с. 5 . Трутко А.Ф. Методы расчета транзисторов. М.: Энергия, 1971. 272 с. 6 . Pulfrey D.L., St. Denis A.R., Vaidyanathan M. Compact modelling of high-frequency small-dimension bipolar transistors // IEEE COMMAD98. 1998. P. 1–5. 7 . Vaidyanathan M., Pulfrey D.L. Effects of quasi-ballistic base transport on the high-frequency characteristics of bipolar transistors // IEEE Transactions on Electron Devices. 1997. V. ED-44. P. 618–626. 8 . Пузанов А.С., Оболенский С.В. Особенности переноса электронов в биполярных транзисторных структурах с тонкой базой при воздействии потока квантов высоких энергий // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 4. С. 304–312. |