Главная страница
russian   english
16+
<< назад

Название статьи

МД МОДЕЛИРОВАНИЕ МЕХАНИЧЕСКИХ И ТЕПЛОВЫХ СВОЙСТВ МЕМБРАНЫ ФЛЮОРОГРАФЕНА


Номер журнала
4
Дата выпуска
2011

Тип статьи
научная статья
Коды УДК
539.3;539.21
Страницы
493-495
Ключевые слова
флюорографен, фторированный графен, структура, коэффициенты температурного рас- ширения, модуль Юнга, коэффициент Пуассона, молекулярно-динамическое моделирование

Авторы
Мазо Михаил Абрамович
Балабаев Николай Кириллович
Гусарова Елена Борисовна
Товстик Татьяна Петровна

Место работы
Мазо Михаил Абрамович
Институт химической физики им. Н.Н. Семенова РАН, Москва

Балабаев Николай Кириллович
Институт математических проблем биологии РАН, г. Пущино

Гусарова Елена Борисовна
Институт химической физики им. Н.Н. Семенова РАН, Москва

Товстик Татьяна Петровна
Институт проблем машиноведения РАН, Санкт-Петербург


Аннотация
Молекулярно-динамическое моделирование используется для расчета тепловых и механических ха- рактеристик полностью фторированных мембран графена ? флюорографена (ФГ). Рассматриваются три плоско-кристаллические структуры ФГ («кресельная», «кроватная» и структура «стиральной доски»), а также мембрана со случайным расположением атомов фтора. Получены коэффициенты температурно- го расширения мембран и их равновесные геометрические характеристики (длины валентных связей и величины валентных углов) в области температур от 1 до 300 К. Численное моделирование растяжения и сжатия мембран позволило рассчитать их продольные и изгибные жесткости, а также коэффициенты Пуассона при двух температурах: 1 К и 300 К. Полученные значения модулей Юнга для плоско-кристалли- ческих структур хорошо согласуются с соответствующими значениями квантово-механических расче- тов. В то же время величины модулей Юнга для мембраны со случайным расположением фторов при- мерно в 2.5 раза ниже и согласуются с известными экспериментальными данными, что, возможно, сви- детельствует о большой дефектности получаемых в экспериментах мембран ФГ.

Загрузить статью

Библиографический список
1 . Митькин В.Н. // Ж. струк. химии. 2003. Т. 44. №1. С. 99?138.
2 . Nair R.R. et al. // Small. 2010. V. 6, No 24. P. 2877?2884.
3 . Robinson J.T. et al. // Nano Lett. 2010. V. 10. P. 3001?3005.
4 . Withers F., Dubois M., Savchenko A.K. // Phys. Rev. B. 2010. V. 82. P. 073403.
5 . Cheng S.-H., et al. // Phys. Rev. B. 2010. V. 81. P. 205435; V. 114. P. 5389?5396.
6 . Leenaerts O. et al. // Phys. Rev. B. 2010. V. 82, No 19. P. 195436.
7 . Artyukhov V.I., Chernozatonskii L.A. // J. Phys. Chem. A. 2010. V. 114, No 16. P. 5389?5396.
8 . Watkins E.K., Jorgensen W.L. // J. Phys. Chem. A. 2001. V. 105, No 16. P. 4118?4125.
9 . Lemak A.S., Balabaev N.K. // Mol. Simul. 1995. V. 15, No 4. P. 223?231.
10 . Мазо М.А., Маневич Л.И., Балабаев Н.К. //Российские нанотехнологии. 2009. Т. 4, №9, 10. С. 1118-1135.