ПРИМЕНЕНИЕ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ И МЕТОДИКИ КОМПЬЮТЕРНОГО ЗРЕНИЯ ДЛЯ ОЦЕНКИ КАЧЕСТВА ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ЭЛЕМЕНТОВ НА ОСНОВЕ СЕЛЕНИДА И СУЛЬФИДА ЦИНКА |
| 5 | |
| 2013 |
| научная статья | 681.3: 681.7.023.72 | ||
| 61-65 | оптическая микроскопия, атомно-силовая микроскопия, селенид цинка, сульфид цинка, качество поверхности, шероховатость поверхности |
 |
| 1 . Винокуров В.М. Исследование процесса полировки стекла. М.: Машиностроение, 1967. 196 с. 2 . Ходаков Г.С., Кудрявцева Н.Л. Физико-химические процессы полирования оптического стекла. М., 1985. 224 с. 3 . Ребиндер П.А. Физико-химическая механика. М.: Знание, 1967. Сер. IV. № 39, 40. 64 с. 4 . Гаврищук Е.М. Поликристаллический селенид цинка для ИК-оптики // Неорганические материалы. 2004. Т. 39. № 9. С. 1031– 1049. 5 . Гаврищук Е.М., Яшина Э.В. Оптические элементы из сульфида цинка и селенида цинка для инфракрасной техники // Оптический журн. 2004. Т. 71. № 12. С. 24–31. 6 . Окатов М.А., Байгожин А., Антонов Э.А. и др. Справочник технолога-оптика / Под ред. М.А. Окатова. 2-е изд., перераб. и доп. СПб.: Политехника, 2004. 679 с. 7 . Тимофеев О.В., Гаврищук Е.М., Вилкова Е.Ю., Колесников А.Н. Исследование полированных поверхностей халькогенидов цинка путём компьютерного распознавания дефектов на микрофотографиях // Оптический журн. 2010. Т. 77. № 1. С. 87–94. |