МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ АНАЛИТИЧЕСКИХ МЕТОДОВ ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ НАНОСИСТЕМ |
6 | |
2013 |
ФИЗИКА ТВЁРДОГО ТЕЛА |
научная статья | 53.043 + 538.911 + 006.9 | ||
41-46 |
![]() |
1 . Spin electronics – a review / Gregg J.F., Petej I., Jouguelet E., Dennis C. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2002. V. 35. № 18. P. R121–R155. 2 . Holub M., Bhattacharya P. Spin-polarized light-emitting diodes and lasers // J. Phys. D: Appl. Phys. 2007. V. 40. № 11. P. R179–R203. 3 . Concepts in spin electronics / Ed. S. Maekawa. N.Y.: Oxford University Press, 2006. 93 p. 4 . Schmidt G. Concepts for spin injection into semi-conductors – a review // J. Phys. D: Appl. Phys. 2005. V. 38. № 7. P. R107–R122. 5 . Pavesi L. Will silicon be the photonic material of the third millenium? // J. Phys. Cond. Mat. 2003. V. 15. P. R1169–R1196. 6 . Masini G., Colace L., Assanto G. Si based optoe-lectronics for communications // Mat. Sci. Eng. B. 2002. V. 89. P. 2–9 7 . Леденцов Н.Н., Устинов В.М., Щукин В.А. и др. Гетероструктуры с квантовыми точками: получе-ние, свойства, лазеры. Обзор // ФТП. 1998. Т. 32. № 4. С. 385–410 8 . Белов А.И., Михайлов А.Н., Николичев Д.Е. и др. Формирование и «белая» фотолюминесценция нано-кластеров в пленках SiOx, имплантированных ионами углерода // ФТП. 2010. Т. 44. № 11. С. 1498–1503 9 . MEMS: The maturing of a new technology / Pottenger M., Eyre B., Kruglick E., Lin G. // Solid State Technology. 1997. P. 89–96 10 . Sontheimer A. Digital Micromirror Device (DMD) Hinge Memory Lifetime Reliability Modeling // Proceedings of International Reliability Physics Sympo-sium. 2002. P. 118–121 11 . Яновский Ю.Г., Григорьев Ф.В., Никитина Е.А. и др. Наномеханические свойства нанокласте-ров полимерных композитов // Физическая мезоме-ханика. 2008. Т. 13. № 3. С. 61 |