Вестник Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского. Серия: Социальные науки

16+

Название статьи

ДИАГНОСТИКА ВЛИЯНИЯ ОБЛУЧЕНИЯ ИОНАМИ БОРА НА СОСТОЯНИЕ ПОВЕРХНОСТИ МЕДНО-НИКЕЛЕВОЙ ФОЛЬГИ В НАНОМАСШТАБЕ

Номер журнала	2
Дата выпуска	2013

Тип статьи	научная статья	Коды УДК	539.21;539.12.04
Страницы	12-16	Ключевые слова	ионная имплантация, медно-никелевые фольги, топография поверхности, атомно- силовая микроскопия, эффект дальнодействия

Авторы

Новоселов А.А.Баянкин В.Я.Филатов Д.О.Смирнов А.А.Тетельбаум Д.И.

Место работы

Новоселов А.А. Физико-технический институт Уральского отделения РАН, Ижевск
Баянкин В.Я. Физико-технический институт Уральского отделения РАН, Ижевск
Филатов Д.О. Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Смирнов А.А. Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского
Тетельбаум Д.И. Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского

Аннотация

Методом атомно-силовой микроскопии исследовано изменение топографии поверхности фольги Cu80-Ni20 при облучении ионами бора с энергией 40 кэВ. Установлено, что как на облученной, так и на обратной сторонах происходит сглаживание неровностей, качественно одинаково зависящее от дозы в интервале 5·1015 – 1·1017 см-2. Этот эффект интерпретируется как проявление эффекта дальнодействия.

Загрузить статью

Библиографический список

1 . Зеленский В.Ф., Неклюдов И.М., Черняева Т.П. Радиационные дефекты и распухание металлов. Ки- ев: Наукова думка, 1988. 296 с.
2 . Ибрагимов Ш.Ш., Кирсанов В.В., Пятилетов Ю.С. Радиационные повреждения металлов и спла- вов. М.: Энергоатомиздат, 1985. 240 с.
3 . Селищев П.А. Самоорганизация в радиационной физике. Киев: ООО «Видавництво «Аспект- полiграф», 2004. 240 с.
4 . Хмелевская В.С. Неравновесные состояния втвердом теле. Обнинск: ИАТЭ, 2004. 156 с.
5 . Хакен Г. Синергетика: Пер. с англ. М.: Мир, 1980. 404 с.
6 . Пратон М. Введение в физику поверхности.Ижевск: R&C Dynamics, 2000. 256 с.
7 . McGuire G.E., Weiss P.S., Kushmerick J.G. et al. // Anal. Chem. 1997. V. 69. №12. P. 231R–250R.
8 . Nyffenegger R.M., Penner R.M. // Chem. Rev. 1997. V. 97. P. 1195–1230.
9 . Быков В.А., Лазарев М.И., Тавров А.В. // Журн. «Компьютер». 1997. № 41. С. 38–39.
10 . Великая революция в мире малого: последние достижения в мире нанотехнологий // CHIP. 2002. № 6. С. 22–25.
11 . Howland R., Benatar L. A practical guide to scanning probe microscopy. USA: Park Scientific In- struments, 1993. 74 p.
12 . Гоголинский К.В., Решетов В.Н. // Заводская лаборатория. 1999. Т. 64. № 6. С. 30–43.
13 . Володин А.П. // ПТИ. 1998. № 6. С. 3–42.
14 . Дедков Г.В. // УФН. 2000. Т. 170. № 6. С. 585–618.
15 . Артюнов П.А., Толстихина А.Л., Демидов В.Н. // Заводская лаборатория. 1999. Т. 65. № 9.С. 27–37.
16 . Sundararajan S., Bhushan B. // Sensors and Ac- tuators A. 2002. V. 101. P. 338–351.
17 . NT-MDT Catalog. Moscow: Copyright ? NT- MDT, 2003. 40 p.
18 . Bykov V.A. From scanning probe microscopes to smart nanotechnology complex // Proceedings «Scanning probe microscopy – 2003». Nizhny Novgorod: IPM RAS, 2003. P. 74–76.
19 . Gy?rvary E.S., Stein O., Pum D. et al. // Journal of Microscopy. 2003. V. 212. P. 300–306.
20 . Хмелевская В.С., Малынкин В.Г. // Материаловедение. 1998. Т. 2. С. 25.
21 . Новоселов А.А., Гильмутдинов Ф.З., Баянкин В.Я. // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2008. № 6. С. 57–65.
22 . Новоселов А.А., Колотов А.А., Баянкин В.Я. // Химическая физика и мезоскопия. 2009. Т. 11. № 1. С. 106–110.
23 . Тетельбаум Д.И. и др. // Вестник ННГУ. Серия Физика твердого тела. 2003. В. 1(6). С. 187–194.
24 . Хохлов А.Ф. и др. Исследование поверхности, электрических и оптических свойств пленок аморф- ного кремния (a-Si) и микрокристаллического крем- ния (mc-Si) [Электронный документ] // Проект НОЦ ФТНС ННГУ, Н. Новгород. http://nano.unn.ru/ science/projects/Si.aspx
25 . Баянкин В.Я., Никитин А.В., Федоров А.Б. // Высокочистые вещества. 1993. № 6. С. 155–161.
26 . Буренков А.Ф. Таблицы параметров пространственного распределения ионно-имплантированных примесей. Минск: Изд-во БГУ, 1980. 352 с.