Главная страница
russian   english
16+
<< назад

Название статьи

РЀСЧЕС ЎДЍЎРЎДЍЎССР? СЎЛЩР?РЌ Р­РЏР?РЎРЂРЉРЎР?ЀЛЬЍЫХ СЛЎЕВ, ЏЎЛУЧЕЍЍЫХ ЌЕСЎДЎЌ ЌЎЛЕЊУЛЯРЍЎ-ЛУЧЕВЎЙ Р­РЏР?РЎРЂРЉРЎР?Р? Р?Р— СУБЛР?РЊРЂР¦Р?ЎЍЍЎГЎ Р?РЎРЎРЋР§РЌР?РЉРЂ


Номер журнала
 
Дата выпуска

Раздел
Р¤Р?Р—Р?РљРђ ТВЁРДОГО ТЕЛА

Тип статьи
научная статья
Коды УДК
538.9
Страницы
72-74
Ключевые слова
молекулярно-лучевая эпитаксия, сублимационный источник, численные методы, однородность по толщине эпитаксиальных слоев кремния

Авторы
Болдыревский П.Б.
РљРѕСЂРѕРІРёРЅ Рђ.Р“.
Денисов С.А.
Светлов С.П.
Шенгуров В.Г.

Место работы
Болдыревский П.Б.
Нижегородский госуниверситет РёРј. Рќ.Р?. Лобачевского

РљРѕСЂРѕРІРёРЅ Рђ.Р“.
Нижегородский госуниверситет РёРј. Рќ.Р?. Лобачевского

Денисов С.А.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского госуниверситета РёРј. Рќ.Р?. Лобачевского

Светлов С.П.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского госуниверситета РёРј. Рќ.Р?. Лобачевского

Шенгуров В.Г.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского госуниверситета РёРј. Рќ.Р?. Лобачевского


Аннотация
Проведены модельные расчеты распределения значений толщины эпитаксиального слоя по площади подложки для молекулярного пучка, формируемого в вакууме сублимационным источником. Полученные расчетные данные достаточно хорошо согласуются с экспериментом для молекулярно-лучевой эпитаксии кремния.

Загрузить статью

Библиографический список
1 . Молекулярно-лучевая эпитаксия и гетеро-структуры / Под ред. Л. Ченга, К. Плога. М.: Мир, 1989. 580 с.
2 . Алферов Р–.Р?., Асеев Рђ.Р›., Гапонов РЎ.Р’. Рё РґСЂ. // Нано- Рё микросистемная техника. 2003. в„– 8. РЎ. 3-15.
3 . Болховитянов Ю.Б., Гутаковский А.К., Дерябин А.С., Соколов Л.В. // ФТТ. 2008. Т. 50. С. 1783-1786.
4 . Денисов С.А., Шенгуров В.Г., Светлов С.П. и др. // Вестник ННГУ. 2009. № 2. С. 49-54.
5 . Шенгуров В.Г., Чалков В.Ю., Денисов С.А. и др. // Вакуумная техника и технология. 2011. Т. 21. № 1. С. 45-48.
6 . Венцель Е.С., Овчаров В.А. Теория вероятностей и ее инженерные приложения. М.: Высшая школа, 2000. 480 с.