Главная страница
russian   english
<< назад

Название статьи

К ВОПРОСУ О ФИЗИЧЕСКИХ МЕХАНИЗМАХ ГЕНЕРАЦИИ ФЛИККЕРНОГО ШУМА В TI-AU/GAAS ДИОДАХ ШОТТКИ


Номер журнала
1
Дата выпуска
2014

Тип статьи
научная статья
Коды УДК
621.391.822
Страницы
158-162
Ключевые слова
диод Шоттки, низкочастотный шум, вольтамперная характеристика

Авторы
Киселёв М.Р.
Клюев Ал.В.
Клюев Ан.В.

Место работы
Киселёв М.Р.
Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского

Клюев Ал.В.
Нижегородский госуниверситет им. Н.И. Лобачевского

Клюев Ан.В.
НИИ измерительных систем им. Ю.Е. Седакова, Н. Новгород


Аннотация
Обнаружена неоднородность протекания тока в диодах с контактом металл-полупроводник, вследствие чего в ВАХ проявляются дополнительные компоненты тока диода. Одна из компонент имеет квазиомический характер и проявляется при относительно малых токах. Второй дополнительной компонентой является ток термополевой эмиссии. Показано, что именно эти механизмы являются причиной возникновения низкочастотного шума в таких диодах.

Загрузить статью

Библиографический список
1 . Бланк Т.В., Гольдберг Ю.А. Механизмы протекания тока в омических контактах металл-полупроводник // ФТП. 2007. № 41(11). С. 1281-1308.
2 . Padovani F.A., Stratton R. Field and Thermionic- field emission in Shottky barriers // Solid-State Electronics. 1966. V. 9. P. 695-707.
3 . Родерик Э.Х. Контакты металл-полупроводник. М.: Радио и связь, 1982. 208 c. [Пер. с англ.: Rhoderich E.H. Metal-Semiconductor Contacts. Oxford: Clarendon Press, 1978].
4 . Клюев А.В. Низкочастотные шумы в наноразмерных полупроводниковых структурах: источники, измерение, методы анализа // LAP LAMBERT Academic Publishing, 2011. 208 с.