Главная страница
russian   english
16+
<< назад

Название статьи

ВЛИЯНИЕ ДОЗЫ И ТРАВЛЕНИЯ НА ФОТОЛЮМИНЕСЦЕНТНЫЕ СВОЙСТВА SI, ОБЛУЧЕННОГО ТЯЖЕЛЫМИ ИОНАМИ


Номер журнала
2
Дата выпуска
2001

Тип статьи
научная статья
Коды УДК
539.21:535.27:538.958
Страницы
37-40
Ключевые слова
 

Авторы
Трушин С.А.
Михайлов А.Н.
Ежевский А.А.
Лебедев М.Ю.
Акис С.Е.
Мухаматуллин А.Х.
Ревин Д.Г.
Гапонова Д.М.

Место работы
Трушин С.А.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Михайлов А.Н.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Ежевский А.А.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Лебедев М.Ю.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Акис С.Е.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Мухаматуллин А.Х.
Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Ревин Д.Г.
Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород

Гапонова Д.М.
Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород


Аннотация
Исследуются люминесцентные свойства кремния, облученного тяжелыми ионами, в спектральной области λ = 700 - 1100 при комнатной температуре измерения. Установлено, что в области доз ~ 8·1013 см-2, для которой, согласно ранее выполненным расчетам, должна формироваться композиционная структура из нанокристаллических включений в аморфной матрице кремния, наблюдается фотолюминесценция (ФЛ). Спектр ФЛ представлен двумя пиками - при ~ 700 и 930 нм. После травления образцов в плавиковой кислоте (действует на a-Si, но не c-Si) ФЛ резко ослабляется. Пик при 930 нм приписан излучению аморфного кремния, а пик при ~ 700 нм - излучению нанокристаллитов Si.

Загрузить статью

Библиографический список
1 . Тетельбаум Д.И., Трушин С.А., Питиримов А.В. // Тезисы докладов на XXIX международной конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами (Москва, 31 мая - 2 июня, 1999). 1999. С.119.
2 . Тетельбаум Д.И., Трушин С.А., Ревин Д.Г., Гапонова Д.М. и др. // Материалы совещания «Нанофотоника» (Н. Новгород, 20 - 23 марта 2000). С. 204 - 205.
3 . Тетельбаум Д.И., Трушин С.А., Питиримов А.В. // Известия РАН. Сер. Физика. 2000. Т. 64, № 11. С. 2168-2169.
4 . Аморфные полупроводники / Под ред. М. Бродски. М.: Мир, 1962.
5 . Аморфный кремний и родственные материалы / Под ред. Х. Фрицше. М.: Мир, 1991.
6 . Shimizu-Iwayama T., Fujita K., Nakao S., Saitoh K. et al. // J. Appl. Phys. 1994. V. 75. P. 7779.